SISTEMI E MISURE PER TECNOLOGIA
Il conoscere di ciascuno di noi è «una piccola parte di un più ampio conoscere integrato che tiene unita l’intera biosfera o creazione»
Il nostro background ha origini nel 1975 e negli ultimi decenni la citazione di G. Bateson è il “leit motiv” che ha caratterizzato la nostra attività di ricerca di innovazioni tecnologiche. Per la soluzione di problematiche complesse lavoriamo in un contesto multidisciplinare in stretta sinergia con Gruppi internazionali di Ricercatori nell’ambito di Laboratori Condivisi quotidianamente impegnati in una attività fondamentalmente basata sul “problem solving”, test e sperimentazioni di campioni dei nostri Clienti, spesso attraverso l’integrazione e personalizzazione di apparecchiature dell’ultima generazione prodotte dalle nostre Case rappresentate e dai nostri Partners internazionali per lo studio, sviluppo e realizzazione di Sistemi “Customizzati”.
MICROSCOPIA OTTICA, ELETTRONICA, DIGITALE … DAL 1975 …
IL TRASFERIMENTO TECNOLOGICO DI ENEA
KEP – Knowledge Exchange Program
CONTROLLI NON DISTRUTTIVI
Università di Roma Tor Vergata Dip. Ingegneria Industriale
Università di Brescia – Dip. Ingegneria Industriale
Università di Notthingam – Manufacturing Metrology Team
Stuttgart Univesity – Hans Schickard
In oltre 40 anni di attività di marketing di apparecchiature per le Scienze dei Materiali e Il Controllo Qualità, la Simitecno si è specializzata in Sistemi di Scansione 3D Multi scala di macro e microstrutture per Controlli Non Distruttivi, Imaging 3D e Misure Dimensionali Non a contatto; Apparecchiature tra di loro complementari per applicazioni molto diversificate che coprono larga parte delle esigenze di Controllo dei materiali dell’Industria Manufatturiera, Aerospaziale, Automobilistica, Ferroviaria, Petrolchimica, etc.
IL NOSTRO BACKGROUND NEI CONTROLLI NON DISTRUTTIVI
I ns. Specialisti e i nostri Ingegneri vantano una lunga esperienza personale nella ricerca di soluzioni avanzate per la caratterizzazione delle materie prime, sviluppo di nuovi materiali, accettazione di semilavorati, analisi di laboratorio, verifiche dimensionali in sala metrologica e reparti di collaudo, failure analysis nei processi produttivi e in “situ” e monitoraggio della rispondenza ai requisiti di impiego di componenti, impianti e strutture di diversa tipologia.
Sensori diversificati, tra di loro integrabili consentono scansioni esterne, interne e strutturali di oggetti di qualsiasi forma e dimensione per l’analisi delle caratteristiche di Rugosità superficiale, Profilo, Forma e Controllo dell’integrità strutturale dei materiali , con metodologie ad Ultrasuoni, X-RAY CT, Microscopi Digitali 3D e Scanner ottici e laser con risoluzione Macro-Micro-Nano metrica che trovano largo impiego anche nell’ambito di Istituti forensi, Medicina legale, Musei, Centri di restauro, Centri di riabilitazione fisico-motoria, e in molti ambiti di ricerca nel settore delle scienze geologiche, biologiche e delle risorse ambientali.
ALCUNI NOSTRI NOSTRI CLIENTI
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