martedì, Maggio 7, 2024
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Elettronica

La metrologia incontra la microscopia

I sensori NPS consentono misurazioni quantitative molto precise e ad alta velocità delle superfici, in conformità alle normative ISO, senza contatto e la caratterizzazione delle caratteristiche della superficie su micro e nano scala, catturando milioni di punti dati in pochi secondi.  L’integrazione con il sistema di Microscopia digitale 3D HIROX consente di eseguire con una singola scansione misurazioni 3D e acquisizioni di immagini digitali ad alta risoluzione e memorizzare il test in un unico report di elevato contenuto tecnico, qualitativo e quantitativo. La compattezza del sistema ne permette una agevole integrazione, per un controllo in linea, con macchine di produzione e montaggio di componenti elettronici e semiconduttori, Micro lavorazioni meccaniche, incisioni laser, goffrature etc.

Scanner Nano Point | Profilometria 3D

Il sistema NPS è uno strumento di misurazione di tipo senza contatto che utilizza la luce al posto dello stilo di uno strumento di misurazione di tipo a contatto. E’ disponibile una vasta gamma di sensori intercambiabili da scegliere in base alla risoluzione ed al campo di misura da rilevare, che possono essere cambiati in pochi minuti e lavorare singolarmente o perfettamente integrati con l’asse ottico del microscopio per offrire l’osservazione simultanea dell’immagine di superficie e del profilo di altezza.

MISURE DIMENSIONALI SENZA CONTATTO

  • distanze
  • topografia
  • volume
  • planarità
  • rugosità
  • parallelismo
  • ondulazione
  • deformazione
  • rotondità
  • tribologia

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